Thiết bị đo mật độ hạt tĩnh điện NanoCoulombmeter Model 284
Thiết bị NanoCoulombmeter Model 284 của Monroe Electronics (USA) sản xuất, sử dụng để đo mật độ hạt điện tích mất cân bằng phát sinh chính xác trên IC,bảo vệ linh kiện khỏi nguy cơ hư hại bởi phóng tĩnh điện, linh kiện điện tử khi chúng ma sát hay chúng di chuyển hay trượt trong quá trình đóng gói có thể là nguyên nhân chính sinh ra tĩnh điện
Model: Model 284
Nhà sản xuất: Monroe Electronics (USA)
TÍNH NĂNG THIẾT BỊ NANOCOULOMBMETER
- Thiết bị đo mật độ hạt điện tích mất cân bằng dễ dàng sử dụng, hiệu chỉnh và linh động
- Màn hình hiển thị LCD lớn, dễ dàng quan sát
- Hai ngưỡng đo rộng, là lựa chọn phù hợp trong mỗi yêu cầu khác nhau trong việc đo điện áp tĩnh điện phát sinh trên linh kiện
- Tín hiệu đầu ra analog
- Đáp ứng các yêu cầu của tiêu chuẩn EIA-541 (Tiêu chuẩn chất lượng của Electronic Industries Alliance “ Hiệp hội doanh nghiệp điện tử”)
- Khả năng đo điện trường tốt ở những nơi có bề mặt tiếp xúc nhỏ, ghồ gề, khó tiếp xúc.
Tải về catalogue: Nanocolumb meter
Tình trạng: CÓ SẴN HÀNG
Liên hệ để có giá tốt nhất:
THÔNG SỐ KỸ THUẬT MODEL 284
- Nguồn cung cấp: Pin 9v
- Kích thước: 15cm x 9cm x 5.5cm
- Trọng lượng: 0.24kg (bao gồm pin)
- Độ chính xác: Sai số 2%
- Faraday cup (Model 284/22A): Đường kính bên ngoài 10cm x 15cm. Đường kính bên trong 6.5cm x 7cm
- Faraday cup (Model 284/22B): Đường kính bên ngoài 20cm x 24cm. Đường kính bên trong 15cm x 18cm
ỨNG DỤNG THIẾT BỊ ĐO MẬT ĐỘ HẠT TĨNH ĐIỆN
- Đo điện áp tĩnh điện phát sinh trực tiếp trên thân IC, linh kiện điện tử
- Đánh giá vật liệu, kiểm tra thành phần vật liệu, chất liệu IC, linh kiện điện tử
- Giám sát điện áp tĩnh điện phát sinh trong khu vực sản xuất, trên linh kiện.
- Xử lí các vấn đề phát sinh trên IC gây hư hại tiềm ẩn
- Nghiên cứu các vấn đề điện áp tĩnh điện trên linh kiện để đưa ra giải pháp phòng chống phóng tĩnh điện phù hợp
ƯU ĐIỂM THIẾT BỊ NANOCOULOMBMETER 284
- Hoạt động đơn giản, dễ dàng sử dụng, linh hoạt
- Độ chính xác cao khi đo điện áp tĩnh điện trên các IC, linh kiện có bề mặt tiếp xúc nhỏ
- Đánh giá được chất lượng kiểm soát hiện tượng phóng tĩnh điện ESD trên linh kiện
